Analys i optiskt- & svepelektronmikroskop (mätinstrument)

Ircon Drying Systems AB

I tillverkningsprocessen för reflekterande plattor bildades ett fint damm som försämrade reflektionsförmågan.

Chalmers Teknologkonsulter analyserade plattorna i optiskt mikroskop samt svepelektronmikroskop (måtinstrument)

. Efter konsultation med forskningsingenjörer konstateras vad dammet utgjordes av samt en analys av vad som kunnat orsaka beläggningen. Ircon utförde ändringarna i sin process och lyckades bli av med problemet.

 

Mätinstrument